掃描電子顯微鏡 | 愛學習

2021年10月24日 — 背散射电子像主要反映样品表面凹凸情况，越亮的区域，原子序数越高。 第二、看表面形貌，电子成像，亮的区域高，暗的区域低。非常薄的薄膜，背散射电子 ...

2023年12月27日 — sem扫描电镜图的分析方法： 从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

2022年10月18日 — 1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。

2022年5月31日 — 扫描电镜参数众多,皆可显示在图片下方工具栏中,但决定图像质量最直接、最关键因素是加速电压（EHT)、工作距离(WD)、放大倍数(Mag）和检测器种类。

2021年9月26日 — 定义及原理○扫描电镜其利用电子束在样品表现进行扫描，同时利用探测器接收电子束在样品上激发的各种信号，并利用信号检测放大系统输出调制信号转换且 ...

2020年8月3日 — 在圖3中可以看到，每一個元素都有獨特能量的特徵峰。 此外，EDS可以用於定性（元素的類型）以及半定量（樣品中每個元素的濃度百分比）的分析。

2021年8月31日 — 通常我们结合样品SEM&TEM图对其进行描述时，需要给出样品的基本形貌，如：纤维状、针状、盘形、片状、球形等;其次，需要根据样品的基本形貌给出对应的参数 ...

掃描電子顯微鏡（英語：Scanning Electron Microscope，縮寫為SEM），簡稱掃描電鏡，是一種通過用聚焦電子束掃描樣品的表面來產生樣品表面圖像的電子顯微鏡。